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更低偵檢限度 - 教育百科
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| 度 |
國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | lower limit of detection, LLD |
| 日期： | 1984年 |
| 出處： | 保健物理辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 更低偵檢限度的定義是所取樣的放射性物質的最小濃度，具有95％機率會被偵檢出。所謂放射性物質被偵檢出，假如其能使儀器起回應而使分析人員獲一結論，高於偵檢系統背景值的活性是存在的。 對某一特殊度量系統亦可包括放射化學分離，可獲得下列關係式： LLD＝4.66Sb／[3.7×(104EVYe－λ△t)] 式中LLD為更低偵檢限度微居里／毫升 Sb為儀器背景計數率的標準差計數／秒 3.7×104為每微居里的蛻變／秒 E為計數效率計數／蛻變 V為試樣體積毫升 Y為相對放射化學產率（當適用時） λ為某一放射核種的放射性表變常數 △t為收集試樣和計數之間的時間間隔。 對於某一特殊度量系統，用於計算LLD的Sb值應基於真正觀測儀器背景計數率的變異數而非未經驗證的理論預測值。 因為LLD為試樣體積，計數效率、放射化學效率等的函數，會隨不同的取樣和分析步驟而異。當度量系統的參數有了顯著的改變，應重新計算LLD。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_更低偵檢限度 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
貓頭鷹博士