跳到主要內容
:::

教育百科logo

::: 組合後電路內測試 - 教育百科
國家教育研究院辭書
基本資料
英文: in-circuit post assembler testing
日期: 2003年6月
出處: 資訊與通信術語辭典
辭書內容
名詞解釋:
元件裝配在印刷電路板上後,對元件及組裝過程的綜合檢測,以發現元件在插入及焊接時有無損傷而可能導致故障的情形。
資料來源: 國家教育研究院_組合後電路內測試
授權資訊: 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出
貓頭鷹博士
你喜歡貓頭鷹博士嗎

針對貓頭鷹博士的服務你會給幾顆星呢

回到頁面頂端圖示