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個別智力測驗 - 教育百科
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| 智 | |
| 力 | |
| 測 | |
| 驗 |
國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | Individual Intelligence Test |
| 作者： | 陳嘉陽 |
| 日期： | 2000年12月 |
| 出處： | 教育大辭書 |
辭書內容
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名詞解釋： 「個別智力測驗」係為智力測驗在同一時間內僅可施測一個人者，如比西量表；與之相對者為團體智力測驗。 一九○四年，法國心理學家比奈(A. Binet)受法國教育部委託，研究公立小學心智遲滯兒童的教育方法。比奈認為必須先發展出一個用來測量兒童智力的工具，藉以評估兒童智力的高低，使智力不足的兒童接受特殊的教育。比奈和他的同事西蒙(T. Simon)依據他們對智力的看法，於一九○五年編製了全世界第一個個別智力測驗，即比西量表(Binet-Simon Scale)。此量表並在一九○八年及一九一一年又分別做了修訂。原量表（1905年量表）包括三十個題目，按照由易而難的次序排列，以通過的題數多少來表示智力的高低。它主要是用來測量兒童的變通能力，尤其強調判斷能力、理解能力及推理能力，比奈認為這些是智力中的主要成分。後來的修訂本，題目不但增加，而且按年齡水準加以分組。 個別智力測驗通常用來作為診斷的工具，尤其是用來鑑定資優兒童與智能不足兒童，或分類智力不足兒童，都比團體智力測驗更為適用。 常用的個別智力測驗包括： 1.斯比量表(Stanford Revision of the Binet Scale)：一九一六年美國史丹福大學心理學家推孟(L.M. Terman)將比西量表重新修訂而成，後又有一九三七年、一九六○年及一九八五年三次修訂版。 2.魏氏量表(Wechsler-Bellevue Intelligence Scale)：美國心理學家魏克斯勒(D. Wechsler)於一九三九年編製完成的智力測驗；包括三個量表：(1)修訂魏氏成人智力量表(WAIS-R)，一九五五年編製，一九八一年修訂；(2)修訂魏氏兒童智力量表(WISC-R)，一九四九年編製，一九七四年修訂；(3)魏氏學前兒童智力量表(WPPSI)，一九六七年編製。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_個別智力測驗 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |