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徵候測試
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一個電路布林函數的徵候可定義為S＝K/2n，其中K是使函數為真的項數，n為電路的輸入數。在測試過程中，輸入2n個測試值，並統計其輸出為1的數目（K），則該電路的回應資料壓縮結果即為S。上述測試過程即稱之為徵候測試。
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活動能力試驗
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檢測外來化合物對實驗動物活動能力影響的毒理試驗。是檢測化學品神經毒性的初步試驗。實驗動物首選小鼠，設3個劑量組，陰性及陽性對照組，每組動物雌雄各半。高劑量組應有明顯的活動能力異常或顯著的毒性。染毒途徑應與人類可能的染毒途徑相同。進行急性或慢性染毒，以自動記錄裝置定期測定活動能力。比較處理組和對照組的活動能力並進行統計學處理，以評價受試物對實驗動物活動能力的影響。
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故障測試
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利用測試裝置向邏輯電路的輸入端加測試碼，並觀察其輸出反應，以確定有否故障或查出故障元件的位置。
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自動測試形樣產生系統
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係一種自動測試軟體系統，利用電腦對被測數位電路產生測試碼，經由故障模擬產生診斷知識庫（辭典），並將這些測試數據編輯成測試設備用之程式。
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隱蔽複製試樣
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在分析之前並未使分析人員認定是複製的試樣。
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查比V刻痕試驗
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查比V刻痕試驗乃是為了測試某預裂試件在不同溫度與負載率下的斷裂能量而做的斷裂試驗。此斷裂能量與材料的破裂韌性有關，故可藉此求得不同溫度與負載率下之材料破裂韌性。ASTM標準規格中對查比V刻痕試件尺寸大小及試驗程序均有嚴格規定。此試驗之作法是將標準試件，加溫（或冷卻）至所要之溫度後，並把試件兩端固定，用一繫在單擺尾端上之撞鎚，從某高度上自由往下撞擊，使其斷裂。由撞擊前後所造成的撞鎚高度使可計算出斷裂能量，再依查比能量CV與破裂韌性KIC之關係式 （其中α、β因材料而異）計算該材料之破裂韌性。
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始末標誌測試卡式磁帶
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用於卡匣式磁帶機的一種標準磁帶。它提供磁帶開始（BOT）、結束（EOT）標誌孔的標準位置信號，用來調整卡匣式磁帶機的磁帶開始、結束標誌檢測器，並檢驗卡匣式磁帶機所使用各種磁帶的開始，結束標誌孔是否符合標準規格，以確保資訊的互換性。
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自動測試
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指能對程式自動進行檢驗的一種軟體。
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舍試
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舍試為宋代太學施行三舍法之升舍考試，亦稱升舍試，分內舍試與上舍試兩類。據〔宋史‧選舉志〕，宋神宗熙寧時施行太學三舍法後，元豐二年(1079)十二月，頒學令規定，太學兩年舉行一次舍試，內舍生除依優、平兩等校定其平日行（率教不戾）藝（治經程文）外，考試入優、平二等者，可升入上舍。又上舍試亦兩年舉行一次；上舍試時，則學官不預考校，一切如省試法，封彌、謄錄。上舍試分三等，凡內舍生所校行藝與所試之文藝業俱優者，為上舍上等，直接取旨授官；一優一平者為中等，以俟殿試；俱平或一優一否者為下等，以俟省試，免解試。
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試探式決策
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是直覺式決策的一種。和一般依循固定法則進行決策的方法不同，試探式決策是以不斷嘗試錯誤的機制重複決策制訂的過程，以達到最佳化決策的方法。
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貓頭鷹博士