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::: 個別智力測驗 - 教育百科
國家教育研究院辭書
基本資料
英文: Individual Intelligence Test
作者: 陳嘉陽
日期: 2000年12月
出處: 教育大辭書
辭書內容
名詞解釋:
  「個別智力測驗」係為智力測驗在同一時間內僅可施測一個人者,如比西量表;與之相對者為團體智力測驗。
  一九○四年,法國心理學家比奈(A. Binet)受法國教育部委託,研究公立小學心智遲滯兒童的教育方法。比奈認為必須先發展出一個用來測量兒童智力的工具,藉以評估兒童智力的高低,使智力不足的兒童接受特殊的教育。比奈和他的同事西蒙(T. Simon)依據他們對智力的看法,於一九○五年編製了全世界第一個個別智力測驗,即比西量表(Binet-Simon Scale)。此量表並在一九○八年及一九一一年又分別做了修訂。原量表(1905年量表)包括三十個題目,按照由易而難的次序排列,以通過的題數多少來表示智力的高低。它主要是用來測量兒童的變通能力,尤其強調判斷能力、理解能力及推理能力,比奈認為這些是智力中的主要成分。後來的修訂本,題目不但增加,而且按年齡水準加以分組。
  個別智力測驗通常用來作為診斷的工具,尤其是用來鑑定資優兒童與智能不足兒童,或分類智力不足兒童,都比團體智力測驗更為適用。
  常用的個別智力測驗包括:
  1.斯比量表(Stanford Revision of the Binet Scale):一九一六年美國史丹福大學心理學家推孟(L.M. Terman)將比西量表重新修訂而成,後又有一九三七年、一九六○年及一九八五年三次修訂版。
  2.魏氏量表(Wechsler-Bellevue Intelligence Scale):美國心理學家魏克斯勒(D. Wechsler)於一九三九年編製完成的智力測驗;包括三個量表:(1)修訂魏氏成人智力量表(WAIS-R),一九五五年編製,一九八一年修訂;(2)修訂魏氏兒童智力量表(WISC-R),一九四九年編製,一九七四年修訂;(3)魏氏學前兒童智力量表(WPPSI),一九六七年編製。
資料來源: 國家教育研究院_個別智力測驗
授權資訊: 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出
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