:::
儀器偵測極限 - 教育百科
| 儀 | |
| 器 | |
| 偵 | |
| 測 | |
| 極 | |
| 限 |
國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | Instrument Detection Limit |
| 日期： | 2002年2月 |
| 出處： | 環境科學大辭典 |
辭書內容
|
名詞解釋： 檢驗人員使用之儀器，於特定之操作條件與操作環境下，儀器所能偵測到高於背景雜訊之最小訊號之濃度，通常為雜訊之2.5～5倍；或儀器重覆測七次，取其測值之標準偏差之三倍。 例如以AA偵測樣品中空白樣品中銅離子，其七次偵測結果分別為3.0mg/l、2.0mg/l、3.0mg/l、4.0mg/l、2.0mg/l、1.0mg/l和5.0mg/l，則七個測值標準偏差1.3mg/l，則AA之偵測極限為3.9mg/l。 |
|
| 資料來源： | 國家教育研究院_儀器偵測極限 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
貓頭鷹博士