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功能無關測試 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | function independent testing |
| 日期： | 2003年6月 |
| 出處： | 資訊與通信術語辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 一般檢測是依據被測電路所執行的功能，但大型積體電路出現後，由於其所含的電路相當多，逐漸使用像是重覆比較檢測這類與功能無關的方式做測試。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_功能無關測試 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
貓頭鷹博士
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