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半導線法 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | semi-traverse method |
| 日期： | 2003年10月 |
| 出處： | 測繪學辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 於已知點設站，瞄繪各測點方向線，測定第一測點後，量測各測點間之長，作圓弧相交而決定各所求點之位置者，稱為半導線法。如圖所示，如站於A，瞄繪各測點方向線後，量Aa定a點，量ab、bc、……。以a為圓心，ab為半徑，作圓弧與Ab相截得b點。以b為圓心，bc為半徑，作圓弧與Ac相截得c，餘類推。最後可量Af距離，供作校核。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_半導線法 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
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