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同位穿孔檢索系統 - 教育百科
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| 穿 | |
| 孔 | |
| 檢 | |
| 索 | |
| 系 | |
| 統 |
國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | Batten System |
| 作者： | 黃世雄 |
| 日期： | 1995年12月 |
| 出處： | 圖書館學與資訊科學大辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 同位穿孔檢索系統為使用打孔卡片來擷取資料的一種資訊系統，亦稱瞄孔系統(Cordonnier System)；在卡片的座標交點（指定的行、列）上鑽有一些小洞藉以表示文件的號碼，利用通孔的插條可以檢索出需要的卡片。 1939年至1945年之間，貝登(Dr. W. E. Batten)為英國倫敦的帝國化學工業（Imperial Chemical Industries，簡稱ICI）公司之專利及情報部門(Patents and Intelligence Dept.)建立了一套專利文獻檢索系統。此系統係採用800孔的何樂禮氏卡(HolleriehCard)，一張卡片代表一個類、一個孔代表一個文獻登錄號。貝登並為此系統建立了一個階層式分表，粗分為4大類：(1)Product，(2)Process，(3)Use，(4)Apparaeus；每類之下再作細分，例如A1：Thermoplastics，A1.1：Hydrocarbon Polymers。 其製作方式為：首先將專利文獻摘要分類，確立出所屬的不同主題，然後分別在各主題的卡片上，代表文獻號碼的位置打孔，卡片須按分類號排列。 檢索時將相關主題卡片重疊在一起，用一細棒穿過所打之孔，能過者則表示查檢到該文獻。另外，在法國的柯德尼也發展出一套原理極為類似的Peek-a-Boo系統。同樣在相關的索引用語卡片上打孔，再以光線透過重要卡片之方式檢索，又稱光學重合系統(Optical Coincidence System)。 同位穿孔檢索系統之特點在於：索引時先將文獻主題分析為數個層面(Aspect)分別儲存。檢索時再綜合相關主題，找出其真正符合讀者需要的文獻。重要的是，其每一層面均可作檢索點，不像傳統的圖書館目錄卡片，會受層級順序或字彙順序之限制。 此系統尚需一些特殊的設備，以便能正確地穿洞，同時亦需有適當的光源。其設備是必備且昂貴的。雖然同位穿孔檢索系統無法機械化且效率低，不能代表未來資訊檢索的趨勢，但是對於個人的小型收藏和目前圖書館及資訊中心的一些特殊檔案而言，卻仍是有用的。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_同位穿孔檢索系統 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
貓頭鷹博士