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泰迪法 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | Tardy method |
| 作者： | 王偉中 |
| 日期： | 2002年12月 |
| 出處： | 力學名詞辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 泰迪法是一種利用光彈性儀本身光學元件測定小數級光彈條紋的補償方法（參見compensation technique)，不需另加設備，方法簡便並有足夠的精度，其補償方法及步驟如下： 1.在白光平面偏振光場下，定出被測點的主應力方向。 2.改用雙交叉式圓偏振光暗場（參見circular polariscope及dark field），轉動整個鏡片系統（包括偏振片、兩片 1/4波片及分析儀），直至偏振片與分析儀的偏振軸方向分別與該點的主應力方向相重合。 3.當將分析儀轉動某一角度時，可使相鄰的等差線移至被測點A，如圖所示。若分析儀轉過θ角度，n級等差線移至被測點A，則A點的總條紋級次為： nA＝n＋θ°／180° 若分析儀向相反方向轉動，則(n+1)級次的條紋將移至A點，若此時轉角為θ'，則A點的總條紋級次為： |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_泰迪法 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
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