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要徑測試產生 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | critical path test generation |
| 日期： | 2003年6月 |
| 出處： | 資訊與通信術語辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 一種從主輸出到主輸入向後驅動的單通路敏化測試產生方法。在測試產生過程中，如果每個邏輯元件的輸出確定後，該元件輸入值應規定為臨界值（即元件的臨件輸入值變化時，輸出值將變化）。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_要徑測試產生 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
貓頭鷹博士