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::: 移位對角線測試 - 教育百科
國家教育研究院辭書
基本資料
英文: shifted diagonal test
日期: 2003年6月
出處: 資訊與通信術語辭典
辭書內容
名詞解釋:
用來測試隨機存取記憶體之讀入放大器恢復時間的一種方法。
資料來源: 國家教育研究院_移位對角線測試
授權資訊: 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出
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