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自動測試形樣產生系統 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | automatic test pattern generation system |
| 日期： | 2003年6月 |
| 出處： | 資訊與通信術語辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 係一種自動測試軟體系統，利用電腦對被測數位電路產生測試碼，經由故障模擬產生診斷知識庫（辭典），並將這些測試數據編輯成測試設備用之程式。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_自動測試形樣產生系統 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
貓頭鷹博士