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::: 直條棒測試 - 教育百科
國家教育研究院辭書
基本資料
英文: column bar test
日期: 2003年6月
出處: 資訊與通信術語辭典
辭書內容
名詞解釋:
為隨機存取半導體記憶體(RAM)功能測試的一種方法,主要在測試記憶體在陣列結構位置中,某一行中的每一列間的記憶體是否有短路發生。
資料來源: 國家教育研究院_直條棒測試
授權資訊: 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出
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