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藏針     
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針織時應用於袖口、下襬、摺邊等處的合,將針腳隱藏而不露於外,針腳間的距離一般少於半公分。
    
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  雙亦即一組狹,用於使一束粒子(如電子等),或一束光線通過該雙狹時,在離狹某一距離之屏(screen)上形成干涉(interference)條紋。狹間之距離必須還小於入射光之波長或物質波之波長。物質波波長可由下式決定:
  λ=h/p
  式中,λ為波長;p為入射粒子所具之動量;h為Planck常數。此種實驗通常稱謂雙實驗。
    
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裂開。如:「你的衣服綻了,我幫你補一補。」
檢測     
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  高強度材料常因裂端點應力強度因子(stress intensity factor)過高而發生脆性破壞,或因受疲勞載重致使裂逐漸延伸,終致損壞。因此裂的大小、位置常有需要加以檢測的必要。檢測裂的方法很多,主要有下列幾種:
  1. 目視法:有經驗的檢驗師可看出表面上的裂
  2. 染料入滲法:可用以偵測表面裂。首先將染料塗在物體表面上,若有裂時,染料會被吸入。其次將表面染料擦乾,再鋪上一層粉末,當裂中的染料被吸出時,就可知裂的位置與大小。
  3. 磁粉探傷法:利用乾的鐵粉鋪在物體表面,通上電流後鐵粉會聚積在裂附近,如此便可偵測出裂大小與...
    
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高低     
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發表言論、意見。《孽海花》第一六回:「到了你家,什麼事都歸我管,不許你牙高低一點兒。」
尖端開口位移     
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  含裂之物體,其裂尖端開口位移(CTOD),乃指裂開口位移(COD)(參見crack opening displacement)於裂尖端位置的值。即當x=a時之位移值,
  1. 無塑性區產生,則CTOOD=0
  2. 有塑性區產生,則 遠小於a。
隙光孔     
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攝影機隙快門之寬度。此隙寬度與曝光時間及底片移動速度之關係如下:隙寬度=曝光時間×底片移動速度
阻抗     
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  一含裂之物體於承受外加負載時,阻止裂延伸之阻力稱之為裂阻抗(R)。當能量釋放率G大於或等於裂阻抗R時,則裂會產生延伸現象。對於脆性材料言,其R值為一常數,但延性材料其R值隨著裂增長而變大,如圖所示(圖中Δα為裂延伸之長度)。
光圈     
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  乃一狹,寬廣為光波長之數百倍,當光線從狹處通過時,會在螢幕上形成繞射條紋。有單狹光圈及雙狹光圈兩種。
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