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晶片測試     
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指一積體電路在研製過程中的各階段所進行的各種測試。如:在設計階段以電腦模擬所設計電路的邏輯是否正確。
    
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丈量、度量。如:「測量」、「目測」、「測定」、「測試」。
推想、估量。如:「預測」、「推測」、「猜測」。
    
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平而薄的東西。如:「肉片」、「葉片」、「刀片」。
少。如:「片刻」、「隻字片語」。
印有姓名或可供通信的紙。如:「名片」、「明信片」、「生日卡片」。
一方的、單一的。如:「片言」、「片段」、「片面之辭」。
指薄而扁平的東西。如:「刀片」、「相片」、「唱片」、「磁碟片」。
量詞:A>計算薄而成片的東西的單位。如:「一片樹葉」、「兩片土司」。B>計算地面物的單位。如:「一片樹林」、「門前兩側各有一片草地。」
    
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光亮、閃亮的。如:「晶瑩」、「亮晶晶」。
水晶:一種礦石。多為無色透明,光澤似玻璃,可製眼鏡、印章及透光鏡等。
    
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預備的,帶實驗性質的。如:「試用」、「試穿」、「試飛」、「嘗試」。
測驗。如:「口試」、「筆試」、「考試」、「試卷」。
測試     
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對儀器、設備等的性能和安全進行檢測的動作。如:「電腦測試」。
晶片     
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在高度純化的半導體結晶上製作電路後,切割下來的每一單元,容納數十萬個電晶體、電阻器、二極體等電子元件在邊長不到五毫公尺的面積裡。西元一九五九年由美國德州儀器公司首先製成。
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