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直條棒測試 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | column bar test |
| 日期： | 2003年6月 |
| 出處： | 資訊與通信術語辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 為隨機存取半導體記憶體（RAM）功能測試的一種方法，主要在測試記憶體在陣列結構位置中，某一行中的每一列間的記憶體是否有短路發生。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_直條棒測試 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
貓頭鷹博士