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微分dE/dX型半導體偵檢器 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
英文: | (differential) dE/dX semiconductor (nuclear radiation) detector |
日期: | 1984年 |
出處: | 保健物理辭典 |
辭書內容
名詞解釋: 為了測定在偵檢器的厚度dX中荷電粒子的能量損失dE,較之入射荷電粒子的行程具有薄敏感層之半導體核輻射偵檢器。主要是用於荷電粒子的識別。 |
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資料來源: | 國家教育研究院_微分dE/dX型半導體偵檢器 |
授權資訊: | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
貓頭鷹博士