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::: 晶片測試 - 教育百科
國家教育研究院辭書
基本資料
英文: chip testing
日期: 2003年6月
出處: 資訊與通信術語辭典
辭書內容
名詞解釋:
指一積體電路在研製過程中的各階段所進行的各種測試。如:在設計階段以電腦模擬所設計電路的邏輯是否正確。
資料來源: 國家教育研究院_晶片測試
授權資訊: 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出
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