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晶片測試 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
英文: | chip testing |
日期: | 2003年6月 |
出處: | 資訊與通信術語辭典 |
辭書內容
名詞解釋: 指一積體電路在研製過程中的各階段所進行的各種測試。如:在設計階段以電腦模擬所設計電路的邏輯是否正確。 |
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資料來源: | 國家教育研究院_晶片測試 |
授權資訊: | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
貓頭鷹博士