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虛擬窮舉測試 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | pseudo exhaustive testing |
| 日期： | 2003年6月 |
| 出處： | 資訊與通信術語辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 將數字電路劃分成多個子電路，再對每個子電路，以所有可能的輸入組合做為測試碼，進行窮舉測試。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_虛擬窮舉測試 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
貓頭鷹博士