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位準敏感掃瞄設計 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | level sensitive scan design |
| 日期： | 2003年6月 |
| 出處： | 資訊與通信術語辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 一種集合位準敏感設計及掃瞄設計優點，用以增強對大型積體電路製造成品測試的技術。可使包含時序電路的邏輯網路測試，簡化為類似組合邏輯網路的測試。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_位準敏感掃瞄設計 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |