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晶片檢驗 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | chip inspection |
| 日期： | 2003年6月 |
| 出處： | 資訊與通信術語辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 指對積體電路進行檢驗。因積體電路工作內容十分複雜，通常使用檢測設備產生各種輸入以驗證晶片的輸出是否符合預期的結果。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_晶片檢驗 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
貓頭鷹博士