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::: 位準敏感掃瞄設計 - 教育百科
國家教育研究院辭書
基本資料
英文: level sensitive scan design
日期: 2003年6月
出處: 資訊與通信術語辭典
辭書內容
名詞解釋:
一種集合位準敏感設計及掃瞄設計優點,用以增強對大型積體電路製造成品測試的技術。可使包含時序電路的邏輯網路測試,簡化為類似組合邏輯網路的測試。
資料來源: 國家教育研究院_位準敏感掃瞄設計
授權資訊: 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出
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