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::: 電移 - 教育百科
國家教育研究院辭書
基本資料
英文: electromigration
日期: 2003年6月
出處: 資訊與通信術語辭典
辭書內容
名詞解釋:
指半導體積體電路在過高的溫度下工作所產生的一種擴散式的損壞。其原因是半導體受到原子激勵一直趨向接合處,致使電阻一直增加直到半導體停止導電為止。在中央處理單元通常發生在超頻或散熱不良的情況下。
資料來源: 國家教育研究院_電移
授權資訊: 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出