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徵候測試 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | syndrome testing |
| 日期： | 2003年6月 |
| 出處： | 資訊與通信術語辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 一個電路布林函數的徵候可定義為S＝K/2n，其中K是使函數為真的項數，n為電路的輸入數。在測試過程中，輸入2n個測試值，並統計其輸出為1的數目（K），則該電路的回應資料壓縮結果即為S。上述測試過程即稱之為徵候測試。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_徵候測試 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |