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班點干涉術 - 教育百科
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| 術 |
國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | speckle interferometry |
| 作者： | 錢志回 |
| 日期： | 2002年12月 |
| 出處： | 力學名詞辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 又稱雙光束斑點干涉法；其原理及安排方式與斑點照相術相仿。惟一的差別乃是將同調光源（如雷射光）分成兩道光來照射物體，主要是利用兩道光線光程差對物體面外變形的敏銳度，未達到量測物體相關的面外變形量。 所以，此法可量測物體表面x,y,z方向分量、位移導數、物體面外振動節線位置及表面等高線等，其靈敏度與全像攝影干涉術相仿。 此法也是一種非破壞檢測方法，且設備簡易。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_班點干涉術 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |