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雙轉點水準測量 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | bilateral leveling, two-turningpoint leveling |
| 日期： | 2003年10月 |
| 出處： | 測繪學辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 使用兩個轉點及兩支標尺所實施之水準測量稱為雙轉點水準測量。如圖所示：整置水準儀於C1，對BMA之標尺先後兩次後視，得兩標尺讀數。選用不同高度之兩轉點TP1L及TP1H，分別對之行前視，亦得兩標尺讀數。按公式：BM＋BS＝HI，分別相加得C1之HI1（視線高），如觀測無誤，兩個HI1之數據據應相同（或在誤差限界以內），可資檢核。再由HI－FS＝ELV（高程），求得TP1L及TP1H之高程。同法繼續進行，得HI2……等，以迄終點。此法之優點在於觀測途中能隨時檢核不同標尺讀數所求得之HI是否相同，對於無法閉合於原點或另一水準點之開放式水準測量特別有用。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_雙轉點水準測量 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
貓頭鷹博士