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::: 雙轉點水準測量 - 教育百科
國家教育研究院辭書
基本資料
英文: bilateral leveling, two-turningpoint leveling
日期: 2003年10月
出處: 測繪學辭典
辭書內容
名詞解釋:
使用兩個轉點及兩支標尺所實施之水準測量稱為雙轉點水準測量。如圖所示:整置水準儀於C1,對BMA之標尺先後兩次後視,得兩標尺讀數。選用不同高度之兩轉點TP1L及TP1H,分別對之行前視,亦得兩標尺讀數。按公式:BM+BS=HI,分別相加得C1之HI1(視線高),如觀測無誤,兩個HI1之數據據應相同(或在誤差限界以內),可資檢核。再由HI-FS=ELV(高程),求得TP1L及TP1H之高程。同法繼續進行,得HI2……等,以迄終點。此法之優點在於觀測途中能隨時檢核不同標尺讀數所求得之HI是否相同,對於無法閉合於原點或另一水準點之開放式水準測量特別有用。
資料來源: 國家教育研究院_雙轉點水準測量
授權資訊: 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出
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