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干涉儀 - 教育百科
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| 涉 | |
| 儀 |
國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | interferometer |
| 作者： | 黃明哲 |
| 日期： | 2002年12月 |
| 出處： | 力學名詞辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 一束平行單波長光，經分光鏡P1分成兩束光。一束被反射（照物光），另一束則穿透分光鏡（參見光）。然後此兩束光各經過一個反射鏡M1和M2，其中照物光會穿越測試區的模型流場。最後此兩束光於分光鏡P2處會合，再由透鏡聚合於一個銀幕上。如此將可於銀幕上記載有明暗相間隔的干涉條紋，這乃是測試區內流場密度已被改變，而使照物光的相位和參考光相位有差異，造成干涉的結果。每一明暗條紋，代表著有相同密度的曲線，不同條紋顯示有不同的密度。（參見底下的Mach-Zehnder干涉儀圖） |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_干涉儀 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
基本資料
| 英文： | interferometer, fizeau interferometer |
| 日期： | 2003年10月 |
| 出處： | 測繪學辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 利用光波干涉現象以量測微小距離或長度或物體表面精度之裝置，其原理如圖所示。將入射光波被分光鏡分為二道互相垂直光束而分別投射於二個距離不同的面上，當該二束光被反射而再重疊為一時，會因其所行經之路徑長短不同而產生干涉條紋（如圖），依此條紋的粗細、條數可計算出前述兩個面間的微小距離差，通常為波長的倍數，常用的干涉儀有菲索（Fizeau）、邁克森（Michaelson）及柴門格林（Tuyman Gtrrn）干涉儀等型式。 |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_干涉儀 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |