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專利計量 - 教育百科
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國家教育研究院辭書
基本資料
| 英文： | patent bibliometrics |
| 作者： | 張郁蔚 |
| 日期： | 2012年10月 |
| 出處： | 圖書館學與資訊科學大辭典 |
辭書內容
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名詞解釋： 專利計量是將數學及統計方法應用至專利資料的分析方法，相關研究最早可追溯至1940年代，然直至1994年F. Narin發表一篇名為〈專利計量〉的論文後，專利計量始引起廣泛的注意與研究。就研究方法而言，專利計量是書目計量方法的應用，只是相對於以科學文獻反映科學發展的書目計量學，專利計量則是反映技術的創新。基於專利計量與書目計量學（bibliometrics）之類似性，許多書目計量學的概念如引用、共被引、書目耦合、半衰期等亦被應用於專利計量，加上科學與技術關係密切，使得專利與科學文獻之計量研究日益受到重視。雖然專利計量與書目計量之間有許多相似處，但專利與科學文獻特性的差異，例如專利引用與文獻引用的原因並不完全相同，導致書目計量的理論架構無法完全轉移至專利計量，研究者須注意計量結果的解釋。 羅思嘉（2004）。從專利分析看台日韓遺傳工程研究之發展。圖書資訊學刊，2(3/4)，45-57。Meyer, M. (2000). What is special about patent citations? Differences between scientific and patent citations. Scientometrics, 49(1), 91-123.Narin, F. (1994). Patent bibliometrics. Scientometrics, 30(1), 147-155. |
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參考資料： 羅思嘉（2004）。從專利分析看台日韓遺傳工程研究之發展。圖書資訊學刊，2(3/4)，45-57。Meyer, M. (2000). What is special about patent citations? Differences between scientific and patent citations. Scientometrics, 49(1), 91-123.Narin, F. (1994). Patent bibliometrics. Scientometrics, 30(1), 147-155. |
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| 資料來源： | 國家教育研究院_專利計量 |
| 授權資訊： | 資料採「 創用CC-姓名標示- 禁止改作 臺灣3.0版授權條款」釋出 |
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